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用途說明：JFZ1型單晶衍射儀是我公司最新推出的，基于全自動測試的新一代晶體定向儀，是集晶體定向測試與掃描未知晶體晶向于一體的新型設備，既滿足了晶體加工中檢測的需求，又同時可以挑選出不同晶向面的晶體。本產(chǎn)品從根本上解決了操作的便捷性，與傳統(tǒng)的測量晶向角度方式需要人員的培訓，轉變?yōu)槲C控制一鍵測量的快捷操作。
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組成部分 |
詳細類別 |
參數(shù) |
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X 光管
（國產(chǎn)或者進口） |
靶材類型 |
Cu、Fe、Co、Cr、Mo、W等靶材可選 |
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焦點 |
1×10mm或0.4 ×10mm |
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最大輸出功率 |
2kW |
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X射線發(fā)生器
（PLC控制） |
X光管電壓 |
10~50kV，1kV/step |
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X光管電流 |
2~50mA，1mA/step |
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輸出穩(wěn)定度 |
≤0.005%（電源波動±10%） |
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測角儀 |
測角儀結構 |
臥式測角儀θs-θd結構（樣品豎直固定不動） |
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測角儀掃描半徑 |
標準185mm（150~285mm可調） |
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掃描范圍 |
5°~120° |
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掃描速度 |
0.006~10°/min |
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掃描方式 |
θs-θd聯(lián)動、θs或θd單動 |
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工作方式 |
步進、連續(xù)、分段掃描 |
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最小步進角度 |
0.0001° |
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測量精度 |
≤0.001° |
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2θ角重復性 |
0.0001° |
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角定位速度 |
1800°/min（2θ） |
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記錄單元 |
探測器類型 |
蓋革計數(shù)器 |
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工作方式 |
計算機操作，自動控制掃描，保存數(shù)據(jù)圖形 |
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探測器高壓 |
700~1100VDC連續(xù)可調
高壓穩(wěn)定度優(yōu)于0.005% |
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綜合指標 |
報警類型 |
kV或mA過高、kV或mA過低、無水報警、
過流保護、X光管超溫報警、過功率保護等 |
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安全防護 |
防護系統(tǒng)為多重防護，關鍵位置有敷鉛或鉛玻璃防護，防止射線泄漏，防護門連鎖保護 |
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X射線泄漏 |
≤0.1μSv/h（X光管最大功率，未扣除本底） |
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綜合穩(wěn)定度 |
≤0.5%（40kV,40mA,連續(xù)工作14小時） |
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外形尺寸（主體） |
mm×mm×mm（長×寬×高） |
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